亚洲日韩精品无码专区加勒比-日韩久久高清-久久成人综合-一本一道久久a久久精品蜜桃-麻豆国产精成人品观看免费-日韩性大片-性大毛片视频-色在线视频-欧美丰满老熟妇乱叫-肥臀浪妇太爽了快点再快点-插插插操操操-欧美亚洲在线播放-免费成人结看片-无罩大乳的熟妇正在播放-丰满熟妇乱又伦精品-台湾精品一区二区蜜桃-国产精品一区av-青青草狠狠干-日本妇人成熟免费-91看片国产

服務熱線:
18818017858
產品目錄/ PRODUCT MENU
技術支持

您現在的位置:首頁  >  技術文章  >  芯片可靠性如何測試?

芯片可靠性如何測試?

更新時間:2018-12-28瀏覽:2193次

一般來說,可靠度是產品以標準技術條件下,在特定時間內展現特定功能的能力,可靠度是量測失效的可能性,失效的比率,以及產品的可修護性。根據產品的技術規范以及客戶的要求,我們可以執行MIL-STD, JEDEC, IEC, JESD, AEC, and EIA等不同規范的可靠度的測試。

測試機臺種類
高溫貯存試驗 (HTST, High Temperature Storage test)
低溫貯存試驗(LTST, Low Temperature Storage test)
溫濕度貯存試驗 (THST, Temperature & Humidity Storage test)
 溫濕度偏壓試驗 (THB, Temperature & Humidity with bias test)
高溫水蒸汽壓力試驗 (Pressure Cooker test (PCT/UB-HAST)
高加速溫濕度試驗 (HAST, Highly Accelerated Stress test )
溫度循環試驗 (TCT, Temperature Cycling test)
溫度沖擊試驗 (TST, Thermal Shock test )
高溫壽命試驗 (HTOL, High Temperature Operation Life test )
高溫偏壓試驗 (BLT, Bias Life test)
回焊爐 (Reflow Test)

上海寶試檢測設備有限公司 版權所有    備案號:滬ICP備18008183號-3

技術支持:化工儀器網    管理登陸    網站地圖

聯系電話:
18818017858

微信服務號